GB/T 17626.29-2006電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)為
GB/T 17626 電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第二十九部分。
GB/T 17626.29-2006電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)等同采用IEC 61000-4-29:2000《電磁兼容 第4部分:試驗(yàn)和測量技術(shù) 第29部分:直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》。
GB/T 17626的本部分規(guī)定了在電氣、電子設(shè)備的直流電源輸入端口對電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法。
本部分適用于由外部直流網(wǎng)絡(luò)供電的設(shè)備的低電壓直流電源端口。
本部分的目的是建立一種評價(jià)直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度的通用準(zhǔn)則。
本部分規(guī)定了:
——試驗(yàn)等級的范圍;
——試驗(yàn)發(fā)生器;
——試驗(yàn)布置;
——試驗(yàn)程序。
本部分的試驗(yàn)適用于電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)。如果EUT(受試設(shè)備)的額定功率大于第6章要求的試驗(yàn)發(fā)生器的容量,也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。
直流電源輸入端口的紋波不包括在本部分中,它們包括在GB/T 17626.17-2005中。
本部分不適用于特殊的裝置或系統(tǒng)。其主要目的是對有關(guān)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提供通用的和基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)會(huì)(或用戶和設(shè)備制造商)仍有責(zé)任選擇適合其設(shè)備的試驗(yàn)和嚴(yán)酷度等級。