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GB/T 17626.1-2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論

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  • 發(fā)布時間:2014/10/27 9:34:40
  • 作者:銀河電氣

      GB/T 17626.1-2006 電磁兼容試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論為GB/T 17626 電磁兼容 試驗和測量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第一部分。
      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論涵蓋了電氣和電子設(shè)備(裝置和系統(tǒng))在其電磁環(huán)境中的試驗和測量技術(shù)。
      在過去,機(jī)電裝置和系統(tǒng)對電磁騷擾(即傳導(dǎo)、輻射電磁騷擾和靜電放電)并不敏感。目前所使用的電子元件和設(shè)備對這些騷擾則要敏感的多,尤其是對“高頻”和“瞬態(tài)”現(xiàn)象。由于電子元件和設(shè)備以驚人的速度投入運(yùn)行,電的和電磁的騷擾引起的嚴(yán)重誤操作、損壞等危險也隨之增加。
      有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(或用戶和設(shè)備制造商)需負(fù)責(zé)從GB/T 17626系列標(biāo)準(zhǔn)中選擇適當(dāng)?shù)目垢蓴_度試驗項目及設(shè)備適用的試驗等級。但是為了提高這項工作的協(xié)調(diào)和標(biāo)準(zhǔn)化,專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會或用戶、制造商應(yīng)考慮GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論所給出的建議。
      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論等同采用IEC61000-4-1(2000)《電磁兼容第四部分:試驗和測量技術(shù) 第一部分:抗擾度試驗總論》。
      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論自實施之日起代替GB/T 17626.1-1998《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論》。


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