當(dāng)前位置:首頁(yè)檢測(cè)中心銀河文庫(kù) │ GB/T 17626.14-2005電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.14-2005電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)

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  • 發(fā)布時(shí)間:2014/11/14 9:42:03
  • 作者:銀河電氣

  GB/T 17626.14-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)為GB/T 17626 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第十四部分。
  GB/T 17626.14-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)等同采用IEC 61000-4-14:2002《電磁兼容 第4部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第14部分:電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)》,本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電氣和電子設(shè)備對(duì)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)的試驗(yàn)等級(jí)和測(cè)量方法。
  本部分規(guī)定了電氣和/或電子設(shè)備在其所處的電磁環(huán)境下的抗擾度試驗(yàn)。本部分僅考慮傳導(dǎo)現(xiàn)象,包括連接到公用和工業(yè)供電網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的抗擾度試驗(yàn)。
  本部分的目的是給出一個(gè)基準(zhǔn),用以評(píng)估電氣和電子設(shè)備在遭受正和負(fù)的低幅值電壓波動(dòng)時(shí)的抗擾性能。
  本部分所涉及的電壓波動(dòng)不包括閃爍,它是由燈光亮度波動(dòng)產(chǎn)生的生理現(xiàn)象。
  本部分適用于每相額定電流不大于16A的電氣和/或電子設(shè)備。不適用于連接到直流或400Hz交流配電網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。有關(guān)連接到這些網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的試驗(yàn)在其他的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中給出。
  特殊電磁環(huán)境下要求的抗擾度試驗(yàn)水平及相關(guān)的性能判據(jù),在適用的產(chǎn)品、產(chǎn)品類(lèi)或通用標(biāo)準(zhǔn)中給出。但是很多類(lèi)型的產(chǎn)品對(duì)電壓波動(dòng)不敏感,因此這些設(shè)備不需要進(jìn)行本項(xiàng)試驗(yàn)。

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